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比表面与孔隙度分析仪(介孔)

时间:2019-10-24 浏览:813次


仪器型号/公司:Tristar II 3020Micromeritics公司

主要参数:

1.仪器采用静态容量法等温吸附的原理

2.分析范围:材料比表面积 0.01 m2/g至无上限

3.孔径分析范围17-500

4.脱气温度:最高可达450 ℃

仪器用途: Tristar II 3020可以进行材料比表面及孔分布的测试(吸附质-液氮)。可测全吸附:吸-脱附曲线、BET(比表面)及 Langmuir比表面、平均孔尺寸和单点总孔体积、BJH介孔等

适用于各种材料的研究与产品测试,包括测量沸石,碳材料,分子筛,二氧化硅,氧化铝,土壤,黏土,有机金属化合物骨架结构等各种材料,其中材料比表面与孔分布的测试大量应用于分子筛、活性炭等催化材料的表面物理性能研究,广泛应用于催化、环境、建筑领域。

测试项目:

注意事项:

1.送样之前请告知样品的大致比表面积、和样品的预处理温度。

2.如需平行测试,按照平行样品个数累加收费。

3.特殊测试需求,根据测试条件议价。

联系人:章琪
电话:021-37896103
联系邮箱:test1@shicti.com
测试申请单:


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